5060GRB软灯条在点亮测试时,其中存在部分LED单颗芯片不亮
案例:
5060GRB软灯条在点亮测试时,其中存在部分LED单颗芯片不亮。
测试LED,发现灯不亮LED呈现正负极导状态通,高倍显微镜观察LED内部晶粒已经被大电流严重烧毁。
检测线路发现5060RGB存在连锡不良现象。
案例解析:
由于回流焊过程中,焊盘连锡造成部分线路短路,在未经过板面焊接质量检查,就直接进行通电测试,此时过大电流从存在短路的支路通过,造成该线路LED晶粒被烧毁。
预防措施:
对LED产品进行通电测试前,务必先确认电源输出参数指标是否符合使用要求,线路是否有经过完全检测和检修,批量作业前做好首件,从而降低不良隐患的发生。
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